赫尔纳供应德国Peiseler速度测量系统 Peiseler速度测量系统LHS 可用于非接触式距离测量、俯仰角和横滚角测量以及动态外倾角测量。它根据三角测量原理工作，可以提供不同的测量范围

Elektro Physik测厚仪于1947年在科隆成立，为“德国制造”的成功故事奠定了基础。从一开始，Elektro Physik测厚仪就在无损涂层厚度测量领域进行了开拓性的工作，并一直是标准化委员会，研究机构和大学的合作伙伴德国Elektro Physik（EPK）测厚仪

ACRN是一家法国中小企业，总部位于诺曼底，在测量设备设计方面有丰富的经验。 它汇集了当今和未来控制设备设计所需的技能。ACRN以其可和专长而闻名。我们对发展有着长远的愿景。法国ACRN真空检漏仪ACRN测漏仪

赫尔纳供应意大利MICROPLAN电子测量仪WL 电子设备 Wilma 适用于对其放置的机床导轨的直线度控制，与一根钢丝有关，钢丝通过两个带滑轮（可选）的可调支架在两端拉伸。错误都由位于仪器顶部的 LED 显示屏指示，并且由于有数字测微表，可以读取直线度偏差。

赫尔纳供应美国internationallight光测量NIST 可溯源校准要求用于创建校准的传感器追溯到在 NIST 校准实验室校准的传感器。然而，大多数实验室不使用 NIST 的实际传感器来执行校准。相反，他们将其用作“标准”或验证系统。

赫尔纳供应德国Elektro Physik（EPK测厚仪 探头都配备了耐磨杆，在研磨性基材上也能长时间使用。 两种型号都配备了一个的数据存储器，可存储多达 200 万个测量值，这些测量值可以在直接模式 (MiniTest 2500) 中获取，也可以归类为 APPLICATION-BATCH 存储结构。

赫尔纳供应法国Saphymo测量仪S10SSaphymo测量仪MiniTRACE CSDF 以其用户友好的操作方式给人留下深刻印象，是一种理想的测量设备，可轻松快速地识别潜在污染（cps、Bq、Bq/cm²）。食品和擦拭测试测量也可以在可选配件的帮助下进行。

赫尔纳供应瑞士PS Prozesstechnik粒子测量PS Prozesstechnik粒子测量带有用于悬浮液的流通池 (XPT-C) 的设备变体还可以配备用于熔体测量的可加热测量池。另一种选择是用于在线区分无定形和结晶颗粒的偏振光。

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